1.1 產品名稱

兩箱沖擊試驗箱

1.2 產品型號

JS-CJ-65/90

1.3數量

1臺

2.1  概述

本產品是模擬GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術條件；GB/T11158-2008高溫試驗箱技術條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產單位提供溫濕度變化環境，模擬試品在溫度變化環境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產品篩選等。

2.2主要組成

箱體、制冷系統、加熱系統、電氣控制系統、防凝露裝置等，以及在本技術規格中未提及的、但為確保該系統正常、穩定、長期、安全、可靠運行所必須的其它配套設施。

兩箱高低溫沖擊試驗箱，高 低溫提籃沖擊箱技術參數

3.1 提籃尺寸

450×450×450mm (深×寬×高)，多尺寸可選

3.2 工作室尺寸

600×600×600mm   (深×寬×高) 

3.3溫度參數

預熱

室

溫度范圍

40℃～+180℃

溫度波動度

≤±2℃

溫度上升時間

50 ℃～180 ℃ ≤ 30 min

預冷

室

溫度范圍

-65 ℃ ～ +30 ℃

溫度波動度

≤±0.5℃

蓄冷材料

鋁塊

溫度下降時間

30℃～-80℃ ≤60min

工作參數

溫度沖擊范圍

-45℃～＋150℃

溫度波動度

≤±0.5℃

溫度均勻度

≤2℃（空載、恒定狀態下）

溫度偏差度

±2.0℃（空載、恒定狀態時）

轉換時間

≤10S

溫度恢復時間

≤5 min

溫度沖擊方式

通過試驗樣品在測試室移動，上下移動拉動樣品在高溫室和低溫室之間進行溫度沖擊。

3.4沖擊方式

兩箱式溫度循環沖擊，試樣物品在移動提籃中，循環過程自動控制，停留及轉換時間可調

3.5滿足標準

GB/T 2423.22 -2012Na 電工電子產品環境試驗；

GB 10592-2008高、低溫試驗箱技術條件；

GB/T 2423.1-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗A：低溫試驗方法；

GB/T 2423.2-2008電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法；

以上標準和規范如果被新標準和規范替代，執行新的標準和規范，雙方另有約定的按照約定執行。

3.6總功率

約18.0kW。

3.7電壓

AC 380V±10%； 50 Hz；三相五線。

3.8冷卻方式

風冷